Вы здесь: Главная -> Книги -> А.Н. Чувыров, Ш. К. Насибуллаев. "Лабораторные работы по физике. Часть III. Оптика" -> № 3–13. Изучение двойного лучепреломления и интерференция света в кристаллических пластинках
Новости науки
2016:
78
2015:
12345678910
2014:
123456789101112
2013:
123456789101112
2012:
123456789101112
2011:
123456789101112
2010:
123456789101112
2009:
123456789101112
2008:
123456789101112
2007:
123456789101112
2006:
123456789101112
Рейтинг@Mail.ru

№ 3–13. Изучение двойного лучепреломления и интерференция света в кристаллических пластинках


Приборы и принадлежности: поляризационный микроскоп, кристалл кварца, фильтры.

Цель работы: проверка законов интерференции света.

1. Краткая теория

В лабораторной работе 3-12 было описано явление двулучепреломления, происходящее на анизотропных кристаллах.

В этом явлении мы получаем два луча – обыкновенный и необыкновенный, которые поляризованы в двух взаимно перпендикулярных направлениях. Исследуем вопрос о том, как эти два луча, проходя через кристаллическую решетку, будут интерферировать друг с другом.

Рассмотрим оптическую систему, – поляризационный микроскоп (рис. 43). Поляризационный микроскоп состоит из обычного микроскопа и двух поляризующих устройств: поляризатора (П) и анализатора (А). Поляризатор располагается под предметным столиком П, а анализатор над предметным столиком. На предметном столике располагается кристалл кварца. S – зеркало, Сф – светофильтры.

Поляризационный микроскоп Поляризатор и анализатор

Естественный луч света, падая на поляризатор, поляризуется и в кристаллической пластинке образуются две волны, фазы которых скоррелированы, а колебания взаимно перпендикулярны. Анализатор пропускает только составляющую каждого колебания по определенной оси и обеспечивает возможность наблюдения интерференции. Вращая анализатор, мы заметим изменение интенсивности прошедшего света, которая благодаря интерференции зависит от толщины, наклона и ориентации кристаллической пластинки.

Определим, в общем случае, интенсивность света, прошедшего через систему, изображенную на рис. 43.

Обозначим разрешенные направления колебаний, задаваемые кристаллической пластинкой, через 1 и 2, направления колебаний, пропускаемых поляризатором и анализатором, – соответственно ОР и ОА (рис. 44).

Если φ – угол между направлениями 1 и ОР, то амплитуды компонент, пропущенных пластинкой, будут
eq_13_1



главная :: наверх :: добавить в избранное :: сделать стартовой :: рекомендовать другу :: карта сайта :: создано: 12.12.2005 / обновлено: 04.01.2007
Наша кнопка:
Научно-образовательный портал